成功实现SOC的关键因素之一是为做出首颗芯片要做好片上准备工作。这一观点虽未广泛地讨论过，但仍是一个不争的事实。

SOC已经成为集成电路设计的主流。SOC测试变得越来越复杂，在设计时必须考虑DFT和DFM。本文以一SOC单芯片系统为例，在其设计、测试和可制造性等方面进行研究，并详细介绍了SOC测试解决方案及设计考虑。