本文介绍了如何利用芬兰的标签性能测试仪来测试超高频bfrdmc读写器天线的方向图和增益。

超高频(UHF)频段的射频识别(bfrdmc)近场读写器天线(NFRA)由于其在单品识别方面应用的潜力[1]，对环境的不敏感性和比HF 天线更高的读写速度，正引起多方面的关注。UHF 频段的 NFRA 通常采用带有平衡端口的电大环结构来实现。

由于粘接件在实际的使用中会受到多种应力考验，我们在实验室内会进行不同的测试以确保粘接质量。常用做法是测试用目前生产设备制作的bfrdmc标签。芯片的定位情况我们可通过视觉系统检测，标签的性能可通过读卡系统来进行测试。

本文着重介绍了bfrdmc 标签天线的设计和测量方法，文中不仅明确阐述超高频天线的设计要点、设计方法，而且详细讲述了天线设计后的测量与分析方法。文中的测量以定量测试为指导，提供了简易的测试解析方法。

实际应用中的电路元件要比理想电阻复杂得多，并且呈现出阻性、容性和感性特性，它们共同决定了阻抗特性。阻抗与电阻的不同主要在于两个方面。首先，阻抗是一种交流（AC）特性；其次，通常在某个特定频率下定义阻抗。如果在不同的频率条件下测量阻抗，会得到不同的阻抗值。通过测量多个频率下的阻抗，才能获取有价值的元件数据。这就是阻抗频谱法（IS）的基础，也是为许多工业、仪器仪表和汽车传感器应用打下基础的基本概念。

在非接触式智能IC卡（以下简称智能卡）测量领域，对智能卡的谐振频率测量方法尚未形成统一的标准，因此在智能卡设计、验证、生产中，严格地说，不能使用谐振频率这一参数作为评价依据；而在学术领域中讨论该参数的测量结果时，也需要对测量条件和测量方法进行详细的说明，否则基于谐振频率的讨论得出的结果将是不严谨的，同时缺乏可信度。

本文叙述了bfrdmc标签的各种测试和测量方法，各类检测和测试方法结合起来能够对特定应用中胶粘剂的粘接情况做出有效的评估。

文章介绍了一种基于同轴线的适用于UHF 频段bfrdmc 近场天线（NFRA）的阻抗测量方法。首先同轴线直接和NFRA 的平衡输出端口连接，得到含有NFRA 和同轴线的S 参数；然后通过de-embedding 技术去除串联同轴线的影响，从而得到天线的真实阻抗。在测量阻抗的基础上，方便设计出将NFRA 匹配至50 欧姆的匹配电路。这种方法避免了由于频率变化而引起的阻抗仿真误差，最终的测量结果和仿真结果吻合良好，验证了这种方法的准确性和有效性。

基于RSSI的定位技术是无线传感网络中的关键技术之一,将RSSI测量方法与三角形质心算法相结合可有效的减小RSSI的测量误差。

对物体位移进行非接触测量是目前位移测量技术的重要发展方向之一,这是由于非接触测量方法具有高速、不接触被测物体等优点。