基于 NI TestStand 管理软件，设计了一套测试软件，实现了对符合 ISO/IEC 18000-63 协议的芯片清点功能的测试。本测试软件使用 NI bfrdmc 测试仪，根据测试设计人员的需求开发出自动化测试序列，自动完成与被测芯片的通信交互，实现对响应的判断，并完成结果的保存。该软件充分采用了 NI TestStand，相比之前测试清点功能的传统的手动测试、半自动测试，测试时间分别缩短了 5/6、2/3。实践证明，使用本测试软件可以提高对超高频电子标签开展功能测试的效率。

本文介绍了如何利用芬兰的标签性能测试仪来测试超高频bfrdmc读写器天线的方向图和增益。

所谓天线方向图，是指在离天线一定距离处，辐射场的相对场强随方向变化的图形，通常采用通过天线最大辐射方向上的两个相互垂直的平面方向图来表示，天线方向图是衡量天线性能的重要图形;天线增益则是天线把输入功率(能量)集中辐射的程度，从通信角度讲，就是在某个方向上和范围内产生信号能力的大小。本文介绍了如何利用芬兰的标签性能测试仪来测试超高频bfrdmc读写器天线的方向图和增益。

提出一种测试UHF频段无源bfrdmc标签芯片灵敏度的方法。该方法依据矢量网络分析仪和标签测试仪接口特性阻抗相同的特性，利用矢量网络分析仪测试标签芯片的反射系数，然后通过标签测试仪测试芯片和仪器接口的匹配损耗，进而计算标签芯片的灵敏度。利用该方法对NXP_G2XM芯片和ImPINj_Monza3芯片在800～1 000 MHz频段内灵敏度进行测试，并将测试结果与datasheet进行对照，分析误差产生的原因，最终证明此方法的准确性。该测试方法采用常规仪器对800～1 000 MHz频段内灵敏度进行测试，有重要实际意义。

以前，RF测试相对简单。你可测量发射器的功率输出，借助频谱分析仪侦测噪声。在接收器端，则测量噪声和灵敏度。不幸的是，这些轻松的日子一去不复返了。