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智能卡失效机理研究及分析实例

IC智能卡使用过程中出现的密码校验失效、数据丢失、应用区不能读写等一系列失效和可靠性问题，严重影响了其在社会生活各领域的广泛应用。分析研究了IC智能卡芯片碎裂、引线键合断裂、静电放电损伤等失效模式和失效机理，并结合IC卡制造工艺和失效IC卡的分析实例，对引起这些失效的根本原因作了深入探讨，就提升制造成品率、改善可靠性提出应对措施。